探针式轮廓仪

Dektak Pro探针式轮廓仪
一款高精度表面形貌测量仪器，通过接触式探针技术实现纳米级垂直分辨率的台阶高度、粗糙度和三维形貌分析，广泛应用于半导体、光学镀膜及材料科学研究领域。
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Dektak XTL探针式轮廓仪
布鲁克针Dektak XTL探针式轮廓仪对300mm尺寸样品进行优化，用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪
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DektakXT探针式轮廓仪
布鲁克DektakXT探针式轮廓仪(台阶仪)的行业金标准
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