半导体解决方案
JV QCVelox-E 化合物半导体的X射线量测方案
- 产品品牌: 布鲁克 Bruker
- 产品产地: 德国
- 应用领域: 专为LED和外延层晶圆分析设计的高分辨率X射线衍射系统
- 产品简介: QCVelox-E是JV-QC仪器系列中最新最先进的高分辨率 X 射线衍射仪（HRXRD）。它是一款专为化合物半导体行业设计的高分辨率 X 射线衍射质量控制工具，适用于表征所有常见的半导体衬底，包括砷化镓（GaAs）、磷化铟（InP）、氮化镓（GaN）、蓝宝石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。 QCVelox-E 的测量结果通过 JV RADS 分析软件进行分析，该软件是市场领先的 HRXRD 数据模拟、分析和拟合软件（已获专利）。它为客户提供全面且独特的过程控制解决方案，能够快速、准确地计算工艺参数，并即时向生产环节反馈，从而提高产量和盈利能力。
专为LED和外延层晶圆分析设计的高分辨率X射线衍射系统
QCVelox-E是JV-QC仪器系列中最新最先进的高分辨率 X 射线衍射仪（HRXRD）。它是一款专为化合物半导体行业设计的高分辨率 X 射线衍射质量控制工具，适用于表征所有常见的半导体衬底，包括砷化镓（GaAs）、磷化铟（InP）、氮化镓（GaN）、蓝宝石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。
- QCVelox-E 的测量结果通过 JV RADS 分析软件进行分析，该软件是市场领先的 HRXRD 数据模拟、分析和拟合软件（已获专利）。它为客户提供全面且独特的过程控制解决方案，能够快速、准确地计算工艺参数，并即时向生产环节反馈，从而提高产量和盈利能力。