衍射仪和散射系统

D8 ADVANCE
  • 产品品牌: 布鲁克 Bruker
  • 产品产地: 德国
  • 应用领域: 材料特性的无损表征--- 从基础研究到工业质控的任何材料进行详细分析
  • 产品简介: 支持全面扩展的模块化系统,可满足您在环境和非环境条件下对粉末样品、块状样品和薄膜样品的分析需求

一、亮点：

D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解决方案

1）0D-1D-2D------所有维度都非常优质的数据质量

不论在何种应用场合，它都是您的最佳探测器：最高的计数率、动态范围和能量分辨率

2）DAVINCI------面向未来的多用途

采用了开放式设计并具有不受约束的模块化特性的同时，将用户友好性、操作便利性以及安全操作性发挥得淋漓尽致，这就是布鲁克DAVINCI设计

3）≤0.01°2Ɵ------峰位精度

布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM 1976c）整个角度范围内的准直保证

4）D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案

基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：

  • 典型的X射线粉末衍射（XRD）
  • 对分布函数（PDF）分析
  • 小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）

由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。


  • 无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。
  • 不仅如此——布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。

二、D8 ADVANCE 规格

D8 ADVANCE 规格

 

功能

规格

优势

TRIO 光路和TWIN光路

软件按钮切换：

  • 马达驱动发散狭缝（BB几何）
  • 高强度Ka1,2平行光束
  • 高分辨率Ka1平行光束
  • 专利：US10429326、US6665372、US7983389



  • 可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预
  • 是所有类型的样品分析的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）


动态光束优化

动态同步：


  • 马达驱动发散狭缝
  • 马达驱动防散射屏
  • 可变探测器窗口
  • 2Ɵ角度范围：小于1度至>大于150度



 


  • 数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响
  • 大大提高了检测下限，可定量分析少量晶相和非晶相
  • 在较小的2θ角度，具有无与伦比的性能，可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究


 

LYNXEYE XE-T


  • 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV
  • 检测模式：0D、1D、2D
  • 波长：Cr、Co、Cu、Mo和Ag
  • 专利：EP1647840、EP1510811、US20200033275




  • 无需Kß滤波片和二级单色器
  • 铜辐射即可100％过滤铁荧光
  • 速度比传统探测器系统快450倍
  • BRAGG 2D模式：使用发散的初级线束收集2D数据
  • 独一无二的探测器保证：交货时绝无坏道


EIGER2 R

Dectris 公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器，支持多种模式（0D / 1D / 2D）


  • 在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测
  • 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化γ或2Ɵ角度范围
  • 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 
  • 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率


旋转光管

在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换


  • 无需断开电缆或水管，无需拆卸管道
  • DAVINCI设计：全自动检测和配置聚焦方向


自动进样器


  • FLIPSTICK：9个样品
  • AUTOCHANGER：90个样品


在反射和透射几何中运行

D8 测角仪

带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪


  • 布鲁克独有的准直保证，确保了无与伦比的准确性和精确度
  • 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑


非环境条件


  • 温度：从-4K到2500K
  • 压力：10-⁴mbar至100 bar
  • 湿度：5％至95％



  • 在环境和非环境条件下进行研究
  • DIFFRAC设计助您轻松更换样品台


 

三、应用

  • 物相定性分析
  • 结晶度及非晶相含量分析
  • 结构精修及解析
  • 物相定量分析
  • 点阵参数精确测量
  • 无标样定量分析
  • 微观应变分析
  • 晶粒尺寸分析
  • 原位分析
  • 残余应力
  • 低角度介孔材料测量
  • 织构及PDF分析
  • 薄膜掠入射
  • 薄膜反射率测量
  • 小角散射

四、特点

1）TWIN / TWIN 光路

布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

2）动态光束优化（DBO）

布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Ɵ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

3）LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有最高的计数率和最佳的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。

 

LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能最佳的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。

布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！

 五、相关应用图片


1）材料可靠性鉴别(PMI)最为常见，这是因为其对原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。



2）方法包括EVA软件半定量分析、DQUANT软件面积法分析和DIFFRAC TOPAS软件全谱拟合分析法。



3）可以在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。



4）在DIFFRAC.TEXTURE软件中，使用球谐函数和组分分析方法，生成极图、取向分布函数(ODF)和体积定量分析。



5）在DIFFRAC.LEPTOS中分析钢部件的残余应力：通过sin2psi方法，使用Cr辐射测量得到。



6）在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度进行XRR分析。



7）在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2 R 500K通过2D模式收集的NIST标样SRM 8011 9 mm金纳米颗粒进行粒度分析。