力学测试及表面分析

Dektak Pro探针式轮廓仪
一款高精度表面形貌测量仪器，通过接触式探针技术实现纳米级垂直分辨率的台阶高度、粗糙度和三维形貌分析，广泛应用于半导体、光学镀膜及材料科学研究领域。
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Hysitron TI 990纳米压痕仪
Hysitron TI 990以高灵敏度、稳定性和多功能性成为纳米力学研究领域的标杆设备。
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JPK NanoTracker™2
JPK提供模块化的测力型光镊和光势阱捕获平台，广泛应用于从单分子到活细胞的应用研究
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JPK NanoWizard 4XP
JPK Nanowizard 生物型原子力显微镜------最灵活的生物AFM
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MultiMode 8
全球扩展性最强的高分辨AFM
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德国徕卡金相显微镜DM2700M-华普通用
徕卡DM2700M例行检查任务，金相，地球科学，取证调查，材料质量控制和研究各种显微镜
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德国蔡司自动化数码显微镜Smartzoom 5-华普通用
智能化设计，智能化工作流程，智能化输出 Smartzoom 5 ---一款智能型数码显微镜，适用于质量保证与控制领域的所有应用。快速简单的安装，全自动化的系统装配有质量控制领域的专用组件
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德国蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma 系列产品-华普通用
德国蔡司Sigma 系列产品用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜
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Dektak XTL探针式轮廓仪
布鲁克针Dektak XTL探针式轮廓仪对300mm尺寸样品进行优化，用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪
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DektakXT探针式轮廓仪
布鲁克DektakXT探针式轮廓仪(台阶仪)的行业金标准
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